Senior Design Lead - Design Validation

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I korthet

Wir suchen einen erfahrenen ATE Testingenieur mit praktischer Erfahrung auf Advantest und/oder Teradyne ATE-Plattformen für die Halbleiterproduktprüfung in Bangalore und Chennai. Der Ingenieur ist verantwortlich für die Entwicklung, Charakterisierung, Fehlersuche, Validierung und Produktionsunterstützung von ATE-Testprogrammen.

Ansvarsområden

Entwicklung, Fehlersuche und Wartung von ATE-Testprogrammen unter Verwendung der Advantest V93000 und/oder Teradyne UltraFLEX/J750-Plattformen.
Durchführung von Silicon-Bring-up, Charakterisierung, Validierung und Produktionstests.
Entwicklung und Optimierung von Testabläufen für Wafer Sort/Probe und Endtest.
Durchführung von DC-, Funktions-, digitalen, analogen/Mixed-Signal- und parametrischen Tests, basierend auf Produktanforderungen.
Fehlersuche bei geräte-, testprogramm-, testhardware- und testerbezogenen Ausfällen.
Analyse von Testergebnissen und Fertigungsdaten zur Identifizierung von Ertragsproblemen und Fehlermustern.
Förderung der Ertragsverbesserung, der Testabdeckung und der Testzeitoptimierung.
Unterstützung der Entwicklung und Fehlersuche von Lastplatinen/Geräteschnittstellenplatinen, Prüfkarten und anderer ATE-Hardware.
Durchführung von Korrelationsaktivitäten zwischen Engineering- und Produktions-Testumgebungen.
Unterstützung bei der Freigabe von Testprogrammen, der Qualifizierung und der Übertragung in die Massenfertigung (HVM).
Fehlersuche bei Produktionsproblemen und technische Unterstützung für Fertigungs-/OSAT-Teams.
Enge Zusammenarbeit mit den Teams für Produkttechnik, Validierung, Design, DFT, Hardware und Fertigung während der Silizikonwicklung und Produktion.
Erstellung und Pflege von Testspezifikationen, Testverfahren, Charakterisierungsberichten und technischer Dokumentation.

Krav

Praktische Erfahrung in der Entwicklung, Fehlersuche und Validierung von ATE-Testprogrammen.
Starke Expertise auf den Plattformen Advantest V93000 und/oder Teradyne UltraFLEX / J750.
Erfahrung in Post-Silicon Validation, Silicon Bring-up, Charakterisierung und Produktionstests.
Kenntnisse der Umgebungen Wafer Sort/Probe, Endtest und Massenfertigung (HVM).
Erfahrung in der Entwicklung und Fehlersuche von DC-, Funktions-, digitalen, analogen/Mixed-Signal- und parametrischen Tests, je nach Gerätetyp.
Starke Kenntnisse der ATE-Testmethoden, Testabläufe, Testgrenzen und Testabdeckung.
Erfahrung in Ertragsanalyse, Fehleranalyse und Ertragsverbesserung.
Praktische Erfahrung in Testzeitoptimierung und Techniken zur Kostenreduzierung bei Produktionstests.
Erfahrung mit Lastplatinen/DIBs, Prüfkarten und ATE-Test-Hardware.
Fähigkeit zur Durchführung von Testerkorrelation, Testprogrammkorrelation und Produktions-Debugging.
Gutes Verständnis des Halbleiter-IC-Herstellungs- und Testablaufs.
Programmier-/Skriptkenntnisse in C/C++, Python, Perl oder relevanten Tester-Programmierumgebungen.
Vertrautheit mit Schnittstellen/Protokollen wie I2C, SPI, UART, PCIe, USB, DDR, je nach Produktanforderungen.
Gute Debugging-, Analyse- und Problemlösungsfähigkeiten.
Fähigkeit zur Zusammenarbeit mit den Teams für Produkttechnik, Design, DFT, Validierung, Charakterisierung und Fertigung/OSAT.

Önskade kvalifikationer

Fähigkeit zur Analyse von Testprotokollen, Fehlerdaten, Ertragstrends und Charakterisierungsergebnissen.
Erfahrung in der Massenfertigung (HVM) und Zusammenarbeit mit OSAT/Testfertigungsteams ist bevorzugt.
Gute Kenntnisse der Halbleiter-Qualitäts-, Zuverlässigkeits- und Produktionsfreigabeprozesse.
Fähigkeit zur effektiven Zusammenarbeit mit funktionsübergreifenden Teams wie Design, DFT, Produkttechnik, Validierung, Test-Hardware und Fertigung.
Gute Fähigkeiten in technischer Dokumentation, Kommunikation und Koordination mit Stakeholdern.

Färdigheter

ATE Test Program DevelopmentDebuggingValidationAdvantest V93000Teradyne UltraFLEXTeradyne J750Post-Silicon ValidationSilicon Bring-upCharacterizationProduction TestingWafer SortFinal TestHigh-Volume Manufacturing (HVM)DC TestingFunctional TestingDigital TestingAnalog Mixed-Signal TestingParametric TestingYield AnalysisFailure AnalysisYield ImprovementTest Time OptimizationLoad BoardsDIBsProbe CardsTester CorrelationIC ManufacturingC/C++PythonPerlI2CSPIUARTPCIeUSBDDRTechnical DocumentationStakeholder Coordination

#ATE#Test Engineering#Semiconductor#Design Validation

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